第1章  绪论
  1.1  电子仪器可靠性设计环节的重要性
    1.1.1  电子仪器可靠性设计包含的阶段
    1.1.2  电子仪器成本与最终可靠性的关系
  1.2  电子仪器可靠性设计的特点
  习题
第2章  可靠性设计基本概念
  2.1  可靠性基本特征量
    2.1.1  可靠度
    2.1.2  失效率
    2.1.3  平均故障间隔时间
    2.1.4  故障前平均工作时间
  2.2  电子仪器可靠性特征量
    2.2.1  特征量之间的关系
    2.2.2  浴盆曲线
  2.3  可靠性特征量服从的分布
    2.3.1  泊松分布
    2.3.2  指数分布
    2.3.3  威布尔分布
    2.3.4  正态分布
  2.4  电子仪器的特征量及其服从的分布
  习题
第3章  可靠性模型基础
  3.1  概述
  3.2  可靠性模型的建立方法
    3.2.1  可靠性模型组成
    3.2.2  可靠性框图的建立方法
  3.3  典型的可靠性模型
    3.3.1  串联模型
    3.3.2  并联模型
    3.3.3  K/N模型
  3.4  包含三态元器件的电子仪器可靠性模型
    3.4.1  三态元器件概念
    3.4.2  串联模型
    3.4.3  并联模型
  习题
第4章  可靠性分配基础
  4.1  概述
  4.2  等分配法
  4.3  再分配法
  4.4  AGREE分配法
    4.4.1  重要度
    4.4.2  复杂度
  4.5  拉格朗日乘子分配法
  4.6  服从指数分布的可靠性分配
  4.7  电子仪器可靠性分配案例
  习题
第5章  可靠性预计基础
  5.1  可靠性预计的目的和作用
  5.2  常用的可靠性预计方法
    5.2.1  数学模型法
    5.2.2  元件计数法
    5.2.3  相似设备法
    5.2.4  上下限法
  5.3  电子仪器可靠性预计
    5.3.1  元器件的可靠性预计
    5.3.2  电子仪器的可靠性预计
  习题
第6章  故障模式影响及危害性分析方法
  6.1  概述
  6.2  基本术语
  6.3  故障模式影响分析
    6.3.1  故障影响分析
    6.3.2  电子元器件的故障模式、失效机理和故障分析
    6.3.3  故障检测方法分析
    6.3.4  补偿措施分析
    6.3.5  故障模式影响分析的实施
  6.4  危害性分析
    6.4.1  定性危害性分析
    6.4.2  定量危害性分析
    6.4.3  危害性矩阵绘制
  6.5  故障模式影响及危害性分析结果
    6.5.1  故障模式影响及危害性分析程序
    6.5.2  故障模式影响及危害性分析报告
  6.6  案例
  习题
第7章  故障树分析方法
  7.1  故障树建立方法
  7.2  故障树分析的目的和基本概念
    7.2.1  故障树概念
    7.2.2  故障树常用事件及其符号
  7.3  故障树的建立
    7.3.1  原始故障树的建造
    7.3.2  故障树的规范化
    7.3.3  故障树的简化和模块分解
  7.4  故障树定性分析方法
    7.4.1  最小割集的概念
    7.4.2  下行法和上行法求解最小割集
    7.4.3  定性评定故障树中的底事件
  7.5  故障树定量分析
    7.5.1  顶事件发生的概率估计
    7.5.2  求顶事件发生概率的近似值
    7.5.3  故障树的数学描述
  7.6  底事件重要度分析方法
    7.6.1  概率重要度
    7.6.2  关键重要度
    7.6.3  结构重要度
  7.7  故障树分析报告的主要内容
  7.8  案例
  习题
第8章  电子仪器的可靠性设计基础
  8.1  电子仪器可靠性设计的一般流程
  8.2  电子仪器可靠性设计方法
    8.2.1  电子元器件的可靠性
    8.2.2  不同元器件的失效机理
  8.3  元器件的正确使用
    8.3.1  分立半导体器件
    8.3.2  固定电阻和电位器
    8.3.3  电容器
    8.3.4  集成芯片
  8.4  降额设计
    8.4.1  温度和应力对元器件的影响
    8.4.2  降额方法
  8.5  元器件的瞬态和过应力保护设计
    8.5.1  二极管的保护
    8.5.2  晶体管的保护
    8.5.3  TTL电路的保护
    8.5.4  COMS电路的保护
  8.6  热设计
    8.6.1  热设计的方法和主要参数
    8.6.2  常用冷却方法
  8.7  电路的简化设计
  8.8  标准部件和电路的选择
  习题
第9章  电路的可靠性分析
  9.1  潜在电路分析
    9.1.1  潜在电路分析类型
    9.1.2  网络树分析法
    9.1.3  潜在电路设计规则
  9.2  电路的容差分析方法
    9.2.1  容差对电路的影响
    9.2.2  最坏情况分析法
  习题
第10章  电子仪器可靠性试验、验证与评定方法
  10.1  可靠性试验类型
  10.2  环境应力筛选试验
    10.2.1  温度应力筛选试验
    10.2.2  正弦扫频应力筛选试验
    10.2.3  随机振动应力筛选试验
  10.3  可靠性增长试验
    10.3.1  可靠性增长试验的方式
    10.3.2  可靠性增长模型
  10.4  可靠性鉴定试验
    10.4.1  可靠性鉴定试验统计方案类型
    10.4.2  序贯试验统计方案
  10.5  可靠性验收试验
    10.5.1  方案设计与选择
    10.5.2  数据分析方法
  习题
参考文献