第1章  集成电路测试概论
  1.1  概述
  1.2  基础分类
  1.3  发展现状
第2章  集成电路测试技术
  2.1  概述
    2.1.1  基础术语
    2.1.2  测试系统
    2.1.3  精密测量单元
    2.1.4  引脚电路
    2.1.5  测试开发基本规则
  2.2  功能测试
    2.2.1  测试向量转换和测试向量
    2.2.2  测试周期和输入信号
    2.2.3  输出信号
  2.3  基本参数测试
    2.3.1  直流参数测试
    2.3.2  交流参数测试
  2.4  集成电路测试故障模型
    2.4.1  故障模型的概念
    2.4.2  常规故障模型
  2.5  可测性设计
第3章  航天集成电路测试需求
  3.1  概述
  3.2  集成电路单粒子效应测试
    3.2.1  单粒子效应测试概述
    3.2.2  单粒子测试考核指标
    3.2.3  单粒子测试系统
    3.2.4  单粒子测试标准规范
    3.2.5  单粒子测试关键因素
  3.3  集成电路总剂量效应测试
    3.3.1  总剂量测试概述
    3.3.2  总剂量测试考核指标
    3.3.3  总剂量测试系统
    3.3.4  总剂量测试标准规范
    3.3.5  总剂量测试关键因素
  3.4  静电放电测试
    3.4.1  损伤类型
    3.4.2  ESD测试
    3.4.3  实践中静电防护及管理措施
  3.5  闩锁试验测试
    3.5.1  闩锁效应产生原理
    3.5.2  闩锁测试分析
    3.5.3  CMOS电路中抗闩锁的方法
  3.6  极限试验测试
    3.6.1  航天集成电路极限试验测试概念
    3.6.2  航天集成电路极限试验测试理论
    3.6.3  集成电路极限试验测试方法及分析流程
  3.7  数据分析
    3.7.1  常见的数据工具
    3.7.2  统计分析
    3.7.3  统计过程控制
第4章  集成电路测试方法及实例
  4.1  概述
  4.2  数字电路（CMOS电路）
    4.2.1  CC4000
    4.2.2  54AC
  4.3  模拟电路
    4.3.1  运算放大器
    4.3.2  电压调整器
    4.3.3  模拟开关
    4.3.4  时基电路
    4.3.5  脉宽调制电路
    4.3.6  正交调制/解调电路
    4.3.7  锁相环
    4.3.8  二维AMR磁敏传感器芯片
    4.3.9  测试实例
  4.4  存储器与微型计算机
    4.4.1  存储器
    4.4.2  微处理器
    4.4.3  微控制器
    4.4.4  可编程逻辑器件（FPGA）
  4.5  接口集成电路
    4.5.1  模数（A/D）转换器
    4.5.2  数模（D/A）转换器
    4.5.3  低电压差分信号电路
第5章  混合集成电路测试方法及实例
  5.1  概述
  5.2  DC/DC变换器
    5.2.1  产品概述
    5.2.2  测试指标体系
    5.2.3  测试实例
  5.3  功率放大器
    5.3.1  产品概述
    5.3.2  测试指标体系
    5.3.3  测试实例
  5.4  混合EMI滤波器
    5.4.1  产品概述
    5.4.2  测试指标体系
    5.4.3  测试实例
  5.5  微波混合集成电路
    5.5.1  产品概述
    5.5.2  测试指标体系
    5.5.3  测试实例
  5.6  微系统电路
    5.6.1  产品概述
    5.6.2  测试指标体系
    5.6.3  流程和方法
    5.6.4  测试实例
第6章  集成电路自动测试系统
  6.1  通用数字集成电路测试系统
    6.1.1  功能测试
    6.1.2  数字电平
    6.1.3  图形速率
    6.1.4  波形格式
    6.1.5  直流参数和交流参数
  6.2  模拟/混合集成电路测试系统
    6.2.1  模拟/混合集成电路测试系统概述
    6.2.2  测试系统常用硬件模块
参考文献