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稻田面源污染防控理论与实践(精)
ISBN：9787511664754
作者：作者:刘宏斌//张亮//周丰//欧阳威//张富林等|责编:陶莲
定价：￥158.0
出版社：中国农业科技
版次：第1版
印次：第1次印刷
开本：4
精装
页数：1页
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