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晶体结构精修原理及技术
ISBN:9787030793461
作者:作者:谷亦杰//曾垂松//神祥博//敖冬威|责编:霍志国
定价:¥98.0
出版社:科学
版次:第1版
印次:第1次印刷
开本:4
平装
页数:157页
目录
前言
第1章 引言
1.1 晶体结构精修的重要性
1.2 Topas技术在晶体结构精修中的应用
第2章 晶体结构精修原理
2.1 Rietveld法概述
2.2 Rietveld法数学模型
2.2.1 Rietveld法数学模型介绍
2.2.2 Topas技术全谱图拟合精修的策略
2.2.3 精修结果正确性判据及结构精修常见问题
第3章 精修技术
3.1 Topas技术功能及特点
3.2 用户界面
第4章 精修分析
4.1 粉末衍射结构解析中的指标化
4.2 磷酸铁锂的精修
4.3 菱铁矿多相的精修
第5章 精修有关的其他问题
5.1 计算两相比例方法
5.2 晶胞参数拟合
5.3 晶粒尺寸
5.4 微观应力
第6章 结论与展望
6.1 晶体结构精修的意义与价值
6.2 Topas软件在晶体结构精修中的优势与不足
6.3 未来发展方向与挑战
参考文献
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