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中国国家标准汇编(2018年修订-40)(精)
ISBN:9787506696371
作者:编者:中国标准出版社|责编:史玉杰
定价:¥220.0
出版社:中国标准
版次:第1版
印次:第1次印刷
开本:4 精装
页数:641页
商品详情
目录

GB/T 34542.2-2018  氢气储存输送系统  第2部分:金属材料与氢环境相容性试验方法
GB/T 34542.3-2018  氢气储存输送系统  第3部分:金属材料氢脆敏感度试验方法
GB/T 34560.3-2018  结构钢  第3部分:细晶粒结构钢交货技术条件
GB/T 34680.4-2018  智慧城市评价模型及基础评价指标体系  第4部分:建设管理
GB/T 34690.10-2018  印刷技术  胶印数字化过程控制  第10部分:评价方法
GB/T 34691.1-2018  塑料  热塑性聚酯(TP)模塑和挤出材料  第1部分:命名系统和分类基础
GB/T 34710.2-2018  混合气体的分类  第2部分:腐蚀性分类
GB/T 34710.3-2018  混合气体的分类  第3部分:可燃性分类
GB/T 34880.3-2018  五轴联动加工中心检验条件  第3部分:技术条件
GB/T 34909-2018  民用建筑节约材料评价标准
GB/T 34953.2-2018  信息技术  安全技术  匿名实体鉴别  第2部分:基于群组公钥签名的机制
GB/T 34960.5-2018  信息技术服务  治理  第5部分:数据治理规范
GB/T 34961.1-2018  信息技术  用户建筑群布缆的实现和操作  第1部分:管理
GB/T 35001-2018  微波电路  噪声源测试方法
GB/T 35002-2018  微波电路  频率源测试方法
GB/T 35003-2018  非易失性存储器耐久和数据保持试验方法
GB/T 35004-2018  数字集成电路  输入/输出电气接口模型规范
GB/T 35005-2018  集成电路倒装焊试验方法
GB/T 35006-2018  半导体集成电路  电平转换器测试方法
GB/T 35007-2018  半导体集成电路  低电压差分信号电路测试方法
GB/T 35008-2018  串行NOR型快闪存储器接口规范
GB/T 35009-2018  串行NAND型快闪存储器接口规范
GB/T 35010.1-2018  半导体芯片产品  第1部分:采购和使用要求
GB/T 35010.2-2018  半导体芯片产品  第2部分:数据交换格式
GB/T 35010.3-2018  半导体芯片产品  第3部分:操作、包装和贮存指南
GB/T 35010.4-2018  半导体芯片产品  第4部分:芯片使用者和供应商要求
GB/T 35010.5-2018  半导体芯片产品  第5部分:电学仿真要求
GB/T 35010.6-2018  半导体芯片产品  第6部分:热仿真要求
GB/T 35010.7-2018  半导体芯片产品  第7部分:数据交换的XML格式
GB/T 35010.8-2018  半导体芯片产品  第8部分:数据交换的EXPRESS格式

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